高壓X射線衍射方法源自于同步輻射光源，可用于研究粉末和單晶在高壓條件下的結構形成和演化規律。為解決同步輻射光源機時資源偏少的難題，本公司開發實驗室級別的高壓X射線衍射儀。本產品針對高壓X射線衍射方法的獨特性，基于DAC技術和先進的微焦斑高能光源，結合精密旋轉中心定位法，實現對粉體材料、單晶材料等的高壓條件下結構研究。
高壓X射線衍射方法源自于同步輻射光源，可用于研究粉末和單晶在高壓條件下的結構形成和演化規律。為解決同步輻射光源機時資源偏少的難題，本公司開發實驗室級別的高壓X射線衍射儀。本產品針對高壓X射線衍射方法的獨特性，基于DAC技術和先進的微焦斑高能光源，結合精密旋轉中心定位法，實現對粉體材料、單晶材料等的高壓條件下結構研究。
1、 可選微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同時可選針對高壓實驗的高能液態金屬In光源（24 kev），X 射線光源具有聚焦后樣品處光斑小，光通量大和波長短等特點。
2、 大面積、單光子計數探測器提高衍射數據分辨率，獲得更多的衍射峰數量，提高晶體結構的分辨率。配備CdTe單光子計數型探測器，大幅提高對短波長射線的探測效率并降低背景噪音，提高數據信噪比。
3、 采用在同步輻射實驗裝置上所使用的先進旋轉中心定位法，在此基礎上進行優化。利用五維電動樣品位移臺，通過軟件操作，實現樣品掃描對中。具有樣品到探測器距離固定不變、數據精確等優勢，避免用戶操作時輻照損傷。
液態金屬In靶E1型X射線光源參數 | ||
高通量模式 | 焦斑大小 | 90 μm FWHM |
通量 | 1.9 × 108 ph/s | |
發散度 | 3.15 mrad | |
小焦斑模式 | 焦斑大小 | 15 μm FWHM |
通量 | 1.8 ×107 ph/s | |
發散度 | 12.6 mrad | |
特殊模式 | 焦斑大小 | 10 μm |
通量 | 1.0 ×106 ph/s | |
發散度 | 2 mrad | |
位移臺參數 | ||
XY軸重復定位精度±0.2 μm；行程±10 mm； Z軸重復定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm； Ф 軸重復定位精度≤0.002°；行程±135°； X1Y1重復定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm； | ||
1、高壓下的結構相變、狀態方程、彈性、織構等研究
2、涉及的材料包括高溫超導體、納米材料、超硬材料、礦物、大塊金屬玻璃、半導體、各種功能材料等
3、應用領域包括物理、化學、地球/行星科學、材料等
